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“美国GE B4S软膜探头”参数说明
| 品牌： | GE/通用电气 | 类型： | 探头 |
| 测量范围： | 0.05us-400us | 重量： | 1Kg~1.8Kg |
| 型号： | 美国GE B4S软膜探头 | 规格： | B4S软膜探头 |
| 商标： | 美国GE | 包装： | 标准 |
“美国GE B4S软膜探头”详细介绍
应用
• 一般检测目的, 简单形状的大零件
• 锻件, 铸件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 机器零件, 壳体
• 高温检测时带延迟块
性能特征
• 欧款有可更换膜:
- 在不平整和曲面上增进耦合
- 延长探头寿命
- 适于DGS缺陷评定
- 可连接高温延迟块
- Lemo (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选
• 美款有三种类型的保护:
- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.
- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命
- 高温延迟块可以实现 00°F ( 00°C)表面检测.
- BNC 连接端口, 顶装或侧装
接触法探头
接触探头主要用于手动检测。应用接触法探伤时，需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂，然后直接将探头 放置在被测物体表面进行检测。
耦合剂（用于藕合探头和被测物，如油，甘油等）添加在探头 和被测物体之间的空气间隙中，使声波传输进入被测物体。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测，或者在被测 物体表面连续移动探头来完成的。
大 表 面 要 以 某 种 网 状 模 式 进 行 扫 描 检 测 ， 网 格 的 宽 度 取 决 于缺陷的程度和检测标准。
如果不能使用耦合剂，那么就要在某些探头上使用耦合帽，它由软塑料制成。
有 两 种 类 型 的 探 头 可 供 检 测 选 用 ： 单 探 头 （ 图 1 ） 和 双 晶 探头 （ 图 2 ） 。 两 种 探 头 都 是 在 垂 直 于 被 测 物 体 表 面 的 方 向 上
发 射 和 接 收 脉 冲 （ 直 探 头 ） ， 或 者 是 在 与 被 测 物 体 表 面 成 一 定角度的方向上发射和接收脉冲（斜探头，图3）。
• 一般检测目的, 简单形状的大零件
• 锻件, 铸件
• 板材, 棒材, 方型材
• 容器, 机器零件, 壳体
• 高温检测时带延迟块
性能特征
• 欧款有可更换膜:
- 在不平整和曲面上增进耦合
- 延长探头寿命
- 适于DGS缺陷评定
- 可连接高温延迟块
- Lemo (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接端口, 标准为侧装, 顶装可选
• 美款有三种类型的保护:
- 膜可以在不平整和曲面上增进耦合.
- 耐磨帽定期更换可无期限延长探头寿命
- 高温延迟块可以实现 00°F ( 00°C)表面检测.
- BNC 连接端口, 顶装或侧装
接触法探头
接触探头主要用于手动检测。应用接触法探伤时，需要在测量区域或多个测量区域涂上薄薄的一层耦合剂，然后直接将探头 放置在被测物体表面进行检测。
耦合剂（用于藕合探头和被测物，如油，甘油等）添加在探头 和被测物体之间的空气间隙中，使声波传输进入被测物体。接触法探伤将探头分别放置在各检测点逐点检测，或者在被测 物体表面连续移动探头来完成的。
大 表 面 要 以 某 种 网 状 模 式 进 行 扫 描 检 测 ， 网 格 的 宽 度 取 决 于缺陷的程度和检测标准。
如果不能使用耦合剂，那么就要在某些探头上使用耦合帽，它由软塑料制成。
有 两 种 类 型 的 探 头 可 供 检 测 选 用 ： 单 探 头 （ 图 1 ） 和 双 晶 探头 （ 图 2 ） 。 两 种 探 头 都 是 在 垂 直 于 被 测 物 体 表 面 的 方 向 上
发 射 和 接 收 脉 冲 （ 直 探 头 ） ， 或 者 是 在 与 被 测 物 体 表 面 成 一 定角度的方向上发射和接收脉冲（斜探头，图3）。